X-RES, un spectromètre pour résoudre des caractéristiques spectrales extrêmement proches

• Idéal pour les applications haute résolution
• Fentes et filtres optiques interchangeables par l'utilisateur
• Résolution optique aussi faible que 0,05 nm (FWHM)
• Conception optique améliorée - Avec une distance focale de 100 mm
• Logiciel LightScan 2.0 inclus

Résolution extrême avec des performances extrêmes

X-RES est le spectromètre parfait pour ceux qui exigent des performances de résolution extrême capables de résoudre des caractéristiques spectrales étroitement alignées aussi précises que 0,05 nm (FWHM).
Assemblé dans un banc optique robuste et compact avec une distance focale de 100 mm, X-RES est capable de fournir de grandes performances et une grande sensibilité avec une grande symétrie de pic sur la plage de longueurs d'onde opérationnelles, ce qui fait de cette série de spectromètres la solution parfaite pour les applications haute résolution.

 

Intégration parfaite dans votre configuration

Des fonctionnalités telles que des fentes et des filtres optiques interchangeables par l'utilisateur , un indicateur d'état d'alimentation et des fonctions de déclenchement permettent une intégration parfaite de ce spectromètre dans votre configuration.
X-RES est disponible dans une configuration prête à l'emploi (pour les applications les plus courantes) et personnalisée par l'utilisateur (pour les applications plus spécifiques) pour une gamme UV-Vis et Vis-NIR étroite et une gamme UV-Vis-NIR étendue.

 

Spécifications

Gamme : 185-1100nm

Fente : 10µm par défaut (interchangeable)

Détecteur : Toshiba 3648 pixels

Résolution : 0.05 à 0.1nm

Temps d'intégration : 3ms à 214s

Connecteur fibre : SMA 905

Interface : Mini-USB

Trigger : In/Out

Logiciel : LightScan 2.0 (inclus)

Collecteur de lumière : (en option)